bruker布魯克臺階儀-表面輪廓儀 Dektak XT

bruker布魯克臺階儀-表面輪廓儀 Dektak XT是一項創新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創新，更加鞏固了其行業地位。不論應用于研發還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數據采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管的研發以及材料科學領域。

臺階儀Dektak XT能實現：
·  無可匹敵的性能，臺階高度重現性低于4埃
·  Single-arch設計提供具突破性的掃描穩定性
·  先進的“智能電子器件”設立了新低噪音基準
·  新硬件配置使數據采集時間縮短40%
·  64-bit，Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了10倍
·  頻率，操作簡易
·  直觀的Vision64用戶界面，操作簡易
·  針尖自動校準系統
·  布魯克（Bruker）以實惠的配置實現高的性能
·  單傳感器設計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

40多年不斷創新

       建立在40多年的探針輪廓技術創新的知識和經驗之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是首部single-arch設計的探針輪廓儀，首部內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀
       有超過一萬臺設備，品牌Dektak以質量、可靠性及高性價比著稱。當需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量

提高數據采集和分析速度

       利用直接驅動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在保證行業的質量和重現性前提下，DektakXT可以將數據采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數據采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數據量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數據分析。Vision64還具有行業內有效的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式，讓重復和常規的實驗操作變得更快速簡潔。