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            現在位置首頁>實驗耗材配件>顯微鏡配件>原子力顯微鏡探針> 瑞士NanoSensors原子力顯微鏡探針/針尖 AFM probes

            商品編號:49602
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            瑞士NanoSensors原子力顯微鏡探針/針尖 AFM probes

            價    格:詢價

            產    地:瑞士更新時間:2021/9/10 14:45:14

            品    牌:NanoSensors型    號:

            狀    態:正常點擊量:3762

            13718117032
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            北京五澤坤科技有限公司

            聯 系 人:原子力顯微鏡探針

            電     話:010-68458526

            傳     真:010-68470073

            等     級: (第 13年)

            性     質:生產型,貿易型,服務型,

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            PPP-NCHR
            輕敲模式/非接觸模式探針,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率330kHz,彈性系數42N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。
             
             
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            PPP-CONTR
            接觸模式探針,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率13kHz,彈性系數0.2N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。
             
             
            --------------------------------------------------------------------------------
             
             
            PPP-MFMR
            用于磁力顯微鏡測量,每個基片有一個長方形懸臂,共振頻率75kHz,彈性系數2.8N/m,針尖曲率半徑<50nm,針尖鍍硬磁性材料鍍層。
             
             
            --------------------------------------------------------------------------------
             
            NanoSensors產品概覽
            PointProbe Plus (PPP)系列 常用探針
            PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針,適用于大部分的應用及商品化的AFM。
            PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm,可實現高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性?!?br /> --------------------------------------------------------------------------------
            SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探針
            SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術生產,專門為超高分辨的成像所設計。
            SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm,實現超高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性?!?br /> --------------------------------------------------------------------------------
            High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列
            高長徑比探針
            AR系列探針專門為測量具有大長徑比或垂直臺階結構的樣品而設計。
            AR系列探針具有接近垂直的針尖,總體針尖長度達到10-15um,針尖的曲率半徑小于5度(AR10小于2.8度)?!?br /> --------------------------------------------------------------------------------
            Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金剛石鍍層探針
            DT(金剛石)和CDT(導電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況,同樣也應用于摩擦力測量、樣品彈性測量等。
            --------------------------------------------------------------------------------
            MFM 磁力顯微鏡探針
            多種規格(硬磁或軟磁)的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應用而設計。所有探針的磁性鍍層,均具有優越的穩定性。
            --------------------------------------------------------------------------------
            Carbon Nanotube (CNT)系列 碳納米管探針
            Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應用而設計的。
            碳納米管探針使用化學沉積的方法,在PPP系列針尖的最尖端處,生長出碳納米管,從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長徑比及極佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中,能獲得最高的分辨率。
            --------------------------------------------------------------------------------
            AdvancedTEC (ATEC)系列
            AdvancedTEC系列探針,在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種獨有的技術使得ATEC系列探針成為世界上唯一可以從上方觀察到針尖的探針,從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。
            --------------------------------------------------------------------------------
            Plateau (PL)系列
            Plateau系列探針,使用離子束切割技術,將傳統錐形的針尖弄鈍,在針尖處形成一個直徑為1.8μm的圓形平臺,為用戶的特殊應用提供了個性化的探針。
            --------------------------------------------------------------------------------
            Transfer Standards /Calibration Standards 標準樣品
            NanoSensors提供的高精度標準樣品包括:
            1. 二維正交標準樣品:周期分別為100nm、200nm和300nm。
            2. 高度標準樣品:臺階高度為8nm。
            3. 粗糙度標準樣品:100um以內的峰峰值小于10nm。  
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