快速
業界在掃描速度、分辨率、熱漂移和噪聲水平上達到均衡的標桿產品
快掃和自動化模式可將大量測試集成在預設模式下，達到測試效率
同一個AFM平臺上的多種關聯測量技術和模式，適用多種樣品尺寸或多個樣品，無可比擬的可擴展性
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商用高分辨率
Dimension XR 原子力顯微鏡系統與獨有的 PeakF0rce SECM探針結合，提供小于100nm的空間分辨率，該模式提供了對納米顆粒，納米相以及納米微孔研究的新的方式，達到了商用儀器上高的靈敏度與空間分辨率。
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多功能性
可根據您具體的研究要求為 Dimension XR 系統進行配置和添加功能，以滿足現在或者將來的應用需求。結合 Bruker 多項 AFM 方面的技術和模式，以及模式增強功能，Dimension XR 系統提供了儀器性能和出眾的測量表現，幫助您在納米研究領域更上一層樓。
