<track id="llhjh"></track>

        <track id="llhjh"></track>

          <pre id="llhjh"></pre>

          <big id="llhjh"></big>

            來寶網Logo

            熱門詞:生物顯微鏡 水質分析儀 微波消解 熒光定量PCR 電化學工作站 生物安全柜

            現在位置首頁>通用分析儀器>質譜>二次離子質譜> type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            商品編號:78537
            分享

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            價    格:7200

            產    地:德國更新時間:2022/8/11 16:52:42

            品    牌:ABX型    號:10lp

            狀    態:正常點擊量:234

            13722651652
            聯系我時,請說明是在來寶網上看到的,謝謝!

            固安縣雙玉儀器設備有限公司

            聯 系 人:畢經理

            電     話:0316-7026863

            傳     真:0316-7026863

            等     級: (第 10年)

            性     質:生產型,

            聯系我時請說在來寶網上看到的,謝謝!




            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            Type 46: 0.8 ... 9.5 LP/mm / 2x 15 groups致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

            ?

            為滿足用戶需求,現可提供各種用于測試系統分辨率的JIMA測試卡,如果您對上述測試卡感興趣,請隨時與我們聯系

            ?

            測試卡封裝在一個防護盒中type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

            ?

            芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

            ?

            圖案布局:L

            ?

            /空間尺寸: 16種規格圖案,

            ?

            0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

            ?

            2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

            ?

            技術核心:

            ?

            雙能圖像獲取及反符合技術也是XC-Thor 系列探測器的一大特色。雙能成像時,被探測的光子能量被兩個獨立的能量閾值進行比較并分別讀出、一次曝光下即可產生剪影,進而實現組織剝離和材料區分,為醫療和工業領域的X 射線應用翻開了新的一頁。反符合技術則確保了

            ?

            每一個光子信號都能準確的被相對應的像素點所捕獲,從而顯著提升設備的調制傳遞函數(MTF)。

            ?

            應用領域:

            ?

            XC-Thor 系列探測器有效探測區域的可選長度為8cm、10cm 15cm,寬度上則可選擇1.28cm、2.56cm 5.12cm 三種。同時,兩種厚度的CdTe(碲化鎘)晶體可選:0.75mm 適用于常規X 射線能量(≤160kV),2mm 則應用于高能射線源(≤300kV)。由此可見,XC-Thor 探測器具有極強的環境適應性,可以勝任多種不同領域的應用。由于探測器本身加裝了堅固耐久的外殼,可直接加裝在現有射線掃描系統上,應用于諸如焊縫、管道檢測或是便攜式的野外勘探設備上。

            ?

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?8-10.jpg



            產品參數

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            Type 46: 0.8 ... 9.5 LP/mm / 2x 15 groups致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

            ?

            為滿足用戶需求,現可提供各種用于測試系統分辨率的JIMA測試卡,如果您對上述測試卡感興趣,請隨時與我們聯系

            ?

            測試卡封裝在一個防護盒中type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

            ?

            芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

            ?

            圖案布局:L

            ?

            /空間尺寸: 16種規格圖案,

            ?

            0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

            ?

            2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

            ?

            技術核心:

            ?

            雙能圖像獲取及反符合技術也是XC-Thor 系列探測器的一大特色。雙能成像時,被探測的光子能量被兩個獨立的能量閾值進行比較并分別讀出、一次曝光下即可產生剪影,進而實現組織剝離和材料區分,為醫療和工業領域的X 射線應用翻開了新的一頁。反符合技術則確保了

            ?

            每一個光子信號都能準確的被相對應的像素點所捕獲,從而顯著提升設備的調制傳遞函數(MTF)。

            ?

            應用領域:

            ?

            XC-Thor 系列探測器有效探測區域的可選長度為8cm、10cm 15cm,寬度上則可選擇1.28cm、2.56cm 5.12cm 三種。同時,兩種厚度的CdTe(碲化鎘)晶體可選:0.75mm 適用于常規X 射線能量(≤160kV),2mm 則應用于高能射線源(≤300kV)。由此可見,XC-Thor 探測器具有極強的環境適應性,可以勝任多種不同領域的應用。由于探測器本身加裝了堅固耐久的外殼,可直接加裝在現有射線掃描系統上,應用于諸如焊縫、管道檢測或是便攜式的野外勘探設備上。

            ?

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            8-1.jpg



            產品介紹

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            Type 46: 0.8 ... 9.5 LP/mm / 2x 15 groups致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

            ?

            為滿足用戶需求,現可提供各種用于測試系統分辨率的JIMA測試卡,如果您對上述測試卡感興趣,請隨時與我們聯系

            ?

            測試卡封裝在一個防護盒中type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX

            ?

            盒子的外形尺寸(W×D×T):40×30×15mm

            ?

            芯片尺寸(W×D×T):5×5×0.06mm

            ?

            圖案布局:L

            ?

            /空間尺寸: 16種規格圖案,

            ?

            0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

            ?

            2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

            ?

            技術核心:

            ?

            雙能圖像獲取及反符合技術也是XC-Thor 系列探測器的一大特色。雙能成像時,被探測的光子能量被兩個獨立的能量閾值進行比較并分別讀出、一次曝光下即可產生剪影,進而實現組織剝離和材料區分,為醫療和工業領域的X 射線應用翻開了新的一頁。反符合技術則確保了

            ?

            每一個光子信號都能準確的被相對應的像素點所捕獲,從而顯著提升設備的調制傳遞函數(MTF)。

            ?

            應用領域:

            ?

            XC-Thor 系列探測器有效探測區域的可選長度為8cm、10cm 15cm,寬度上則可選擇1.28cm、2.56cm 5.12cm 三種。同時,兩種厚度的CdTe(碲化鎘)晶體可選:0.75mm 適用于常規X 射線能量(≤160kV),2mm 則應用于高能射線源(≤300kV)。由此可見,XC-Thor 探測器具有極強的環境適應性,可以勝任多種不同領域的應用。由于探測器本身加裝了堅固耐久的外殼,可直接加裝在現有射線掃描系統上,應用于諸如焊縫、管道檢測或是便攜式的野外勘探設備上。

            ?

            type81 空間分辨率測試卡 10lp ABX




            猜你喜歡
            16青少年男生穿透明内裤照片

                <track id="llhjh"></track>

                  <track id="llhjh"></track>

                    <pre id="llhjh"></pre>

                    <big id="llhjh"></big>